SYSTESTER思克THI-1801测厚仪,不仅用于电池隔膜、薄膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量，还用于太阳能电池硅片、纸张、胶带、箔片、硅片等各种材料的厚度测量，是一款超高测试误差的全自动测厚仪，测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

THI-1801测厚仪原理：

采用机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

厚度是电池隔膜隔膜最基本的特性之一，其要求的厚度均匀性与所有薄膜生产公司如出一辙，可谓永恒追求的质量指标，会直接影响隔膜卷的外观质量以及内在性能，因此是生产过程中需严加控制的质量指标之一。隔膜厚度的均匀性包括纵向厚度的均匀和横向厚度的均匀，但比较而言，横向厚度均匀性更为重要，一般必须控制在1um以内。

THI-1801测厚仪

THI-1801测厚仪操作步骤：

1.试样条件调节，状态调节时间和环境应按被测材料的规范。

2.试样和厚度测量仪的各测量面无油污、灰尘等污染。

3.测量前应检查薄片测厚仪零点，在每组试样测量后应重新检查其零点。

4.测量时应平缓放下测头，避免试样变形。

5.按等分试样长度的方法以确定测量厚度的位置点，方法如下：

A.试样长度在≤300mm,测10点

B.试样长度在300mm~1500mm,测20点

C. 试样长度在≥1500mm,至少测30点

对未裁边的样品，应在距边50mm开始测量。