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隔膜测厚仪 膜厚度测厚仪

隔膜测厚仪 膜厚度测厚仪

简要描述:隔膜测厚仪 膜厚度测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

产品型号: THI-1802

所属分类:接触式测厚仪

更新时间:2022-11-10

厂商性质:生产厂家

详情介绍

店铺价格仅供仪表网信息展示


不作为设备实际交易价格,请勿直接拍下!


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隔膜测厚仪 膜厚度测厚仪应用范围

适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。


隔膜测厚仪 膜厚度测厚仪主要特点

 接触式测量原理

 德国进口测厚传感器

 触摸屏操作

 扁平化人机交互界面显示

 真彩色液晶显示试验数据、结果

 手动、循环、预约定时多种测量模式

 自动进样,支持左右双向进样

 测试过程全自动完成

 内嵌最大值、最小值、平均值、标准差数据统计分析功能

 本机内置历史数据查询功能

 配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告

 配置标准通信接口

 可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)

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技术指标

测量范围:0~2mm(标配)

0~10mm(可选)

分 辨 率:0.1μm

测量速度:1~25 次/min(可调)

测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)

纸张:200mm2,50±1kPa(可选)

进样步距:0.1mm~1500mm

进样速度:0.1mm/s~150mm/s

电 源:AC 220V 50Hz

进样装置尺寸:287 mm (L)×180 mm (B)×210 mm (H)

主机外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

进样装置净重:11kg

主机净重:38kg

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执行标准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817


产品配置

标准配置:

主机、自动进样装置、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

选 购 件:

纸张测量头、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系


统注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权!





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